Đang tải...
Giá liên hệ
Hãng sản xuất: SEMILAB
DLS-83D là hệ thống đo DLTS hoàn toàn tự động, hỗ trợ phân tích sâu về khuyết tật và tạp chất trong vật liệu bán dẫn mà không cần can thiệp thủ công từ người dùng — lý tưởng cho kiểm tra chất lượng wafer và phân tích thiết bị bán dẫn hoàn chỉnh.
Yêu cầu gọi tư vấn trực tiếp
Bấm vào đây để chúng tôi gọi lại cho bạn ngayTự động hoàn toàn: từ đo đến phân tích, bao gồm nhận dạng tạp chất và xác định nồng độ
Độ nhạy cao: phát hiện tạp chất dưới 10⁹ nguyên tử/cm³
Tương thích với nhiều loại cryostat (buồng làm lạnh)
Quét nhiệt độ (temperature scan)
Quét tần số (frequency scan)
Khảo sát chiều sâu (depth profiling)
Đo C-V, I-V kiểm tra chất lượng mẫu
Đo mặt cắt bắt giữ (capture cross section)
Phản hồi điện dung không đổi
Đo chuyển tiếp dẫn điện (conductance transient)
Tiêm sáng (optical injection)
Đo mật độ trạng thái bề mặt trong cấu trúc MOS
Điều khiển kỹ thuật số và tương tự, vận hành đơn giản
Phần mềm hỗ trợ toàn diện, thư viện dữ liệu đầy đủ giúp nhận dạng chính xác tạp chất
Đa năng và linh hoạt, phù hợp cho cả R&D và sản xuất