Phân tích vật liệu mềm với các giải pháp kính hiển vi tiên tiến

Bài viết này sẽ đề cập đến các ứng dụng của kính hiển vi trong nghiên cứu các vật liệu mềm như polyme, chất xúc tác, chất phủ, bao gồm: Phân tích địa hình bề mặt, đo độ dày lớp, phân tích cấu trúc 3D, phân tích lỗi, nghiên cứu thành phần hóa học, ...

Kiểm tra bề mặt của mẫu vật liệu mềm của bạn, ví dụ: cấu trúc polymer hoặc lớp phủ, với kính hiển vi đồng tiêu. Phát hiện các khuyết tật bề mặt, vết nứt, bong bóng, vết trầy xước hoặc vùi ở độ phân giải cao ở dạng 2D và 3D.

Đo chiều cao của mỗi lớp trong mẫu của bạn, ví dụ: một hệ thống nhiều lớp của một hợp chất polymer, hoặc độ dày của lớp phủ, sử dụng kính hiển vi đồng tiêu.

Tiến hành phân tích vi cấu trúc ba chiều không phá hủy bằng kính hiển vi tia X. Hình ảnh mẫu lớn nguyên vẹn ở độ phân giải cao tại chỗ để hiểu độ tin cậy và cơ chế thất bại.

Tiến hành phân tích lỗi chi tiết của mẫu vật liệu mềm của bạn và phân tích các mẫu gãy hoặc hư hỏng bề mặt bằng kính hiển vi đồng tiêu hoặc kính hiển vi tia X.

Nghiên cứu thành phần hóa học của mẫu vật liệu mềm của bạn bằng các kỹ thuật phân tích tiên tiến, bao gồm quang phổ tia X tán sắc năng lượng (EDS), quang phổ Raman và quang phổ khối ion thứ cấp (SIMS), sử dụng kính hiển vi điện tử quét.

Tiến hành kiểm tra độ bền kéo tại chỗ của mẫu vật liệu mềm của bạn bằng cách sử dụng kính hiển vi điện tử quét. Quan sát và theo dõi biến dạng tại chỗ trong khi mẫu thử được kéo liên tục đến một độ giãn dài khác nhau.

Cùng khám phá các kỹ thuật và giải pháp từ kính hiển vi từ Zeiss cho phép bạn thực hiện nghiên cứu vật liệu mềm một cách hiệu quả.

1.   Kính hiển vi đồng tiêu ZEISS LSM 900 cho Vật liệu
•   Kính hiển vi đồng tiêu đa năng của bạn để chụp ảnh địa hình & bề mặt nâng cao
•   Tiến hành đo đạc địa hình bề mặt & độ nhám
•   Đo độ dày của lớp phủ hoặc lớp
•   Đặc điểm cấu trúc vi mô và điều tra các sai hỏng

2. Kính hiển vi X-ray ZEISS Xradia Versa & Ultra
•   Kính hiển vi tia X 3D cho hình ảnh Sub-Micron nhanh hơn của các mẫu nguyên vẹn
•   Đặc trưng cấu trúc ba chiều
•   Quan sát các cơ chế sai hỏng, phá hủy và khiếm khuyết bên trong
•   Định lượng tiến hóa vi cấu trúc

3. Kính hiển vi điện tử quét và kính hiển vi ion ZEISS FIB-SEM và FE-SEM
•   Đối với các yêu cầu cao nhất về hình ảnh và phân tích từ bất kỳ mẫu nào
•   Tiến hành chụp ảnh dễ dàng với độ phân giải dưới nanomet
•   Lợi ích từ tốc độ và độ nhạy bề mặt cho phân tích EDS hoặc EBSD của bạn
•   Phân tích thành phần nguyên tố bằng EDS, Raman hoặc SIMS