Đang tải...
Giá liên hệ
Hãng sản xuất: SEMILAB
DLS-1100 là hệ thống quang phổ DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy) với độ nhạy cực cao, dùng để phân tích và nhận dạng tạp chất và khuyết tật (bẫy điện) trong vật liệu bán dẫn — phù hợp cho nhà sản xuất wafer và các viện nghiên cứu.
Yêu cầu gọi tư vấn trực tiếp
Bấm vào đây để chúng tôi gọi lại cho bạn ngayNhận diện khuyết tật hoạt động điện
Các chế độ đo đa dạng:
Đo I-V, C-V kiểm tra chất lượng mẫu
Đo chuyển tiếp điện dung theo:
Nhiệt độ (temperature scan)
Tần số (frequency scan)
Chiều sâu (depth profiling)
Mặt cắt bắt giữ (capture cross section)
Phân bố trạng thái bề mặt MOS
Ghi tín hiệu chuyển tiếp để phân tích số hóa (Transient recorder)
I-DLS: tùy chọn cho mẫu dẫn điện cao
Nhiệt độ linh hoạt từ 30K đến 800K tuỳ cấu hình:
Phòng lạnh chống rung thấp: 30K–400K (mở rộng đến 800K)
Hệ kín dùng khí He: 30K–325K
Loại ngâm bằng LN₂: 77K–450K
Hệ tự động LN₂: 80K–550K / 80K–800K
Độ nhạy cực cao: phát hiện tạp chất ở mức 5×10⁷ nguyên tử/cm³
Đo nhiệt độ chính xác <1 K, hỗ trợ tới 10 cảm biến
Tự động hóa toàn phần: kiểm soát, đo đạc và xử lý tín hiệu chuyển tiếp điện dung nhờ phần mềm phân tích cải tiến