Đang tải...
Giá liên hệ
Hãng sản xuất: SEMILAB
Khám phá toàn bộ hồ sơ mật độ hạt tải và điện trở suất trong mọi cấu trúc bán dẫn silicon của quy trình chế tạo linh kiện với hệ thống đo tự động hóa này. Phạm vi đo rộng, đáp ứng nhu cầu tiên tiến nhất trong các ứng dụng hiện đại.
Yêu cầu gọi tư vấn trực tiếp
Bấm vào đây để chúng tôi gọi lại cho bạn ngayNồng độ tạp chất (dopant) và điện trở suất
Mật độ hạt tải và hình dạng phân bố điện trở
Độ sâu tiếp giáp (junction depth)
Độ rộng vùng chuyển tiếp
Điện trở tấm (sheet resistance)
Liều lượng tạp chất kích hoạt điện
Đo góc nghiêng mẫu (Bevel Angle Measurement – BAM)
Phạm vi đo siêu rộng, phù hợp nhiều ứng dụng linh hoạt
Độ phân giải cao, không bị chồng lấn giữa các vùng đo
Tính toán chính xác vùng chuyển tiếp và độ sâu tiếp giáp
Tích hợp đo góc nghiêng mẫu ngay trong quá trình đo (In-situ BAM)
Bàn đo siêu chính xác, độ nhiễu thấp
Cách âm và chống rung hiệu quả trong buồng đo
Giao diện người dùng cảm ứng, phần mềm điều khiển thân thiện và dễ vận hành